Szybszy dostęp niż przeglądarce!
10 kontakty: Chropowatość powierzchni, Częstotliwość, Falistość powierzchni, Fonograf, Interferometria, Mikroskop sił atomowych, Przyrząd pomiarowy, Sygnał analogowy, Sygnał cyfrowy, Topografia powierzchni.
Chropowatość powierzchni
Chropowatość lub chropowatość powierzchni – cecha powierzchni ciała stałego, oznacza rozpoznawalne optyczne (choć niekoniecznie gołym okiem) lub wyczuwalne mechanicznie nierówności powierzchni, niewynikające z jej kształtu, a charakteru obróbki i użytego narzędzia i przynajmniej o jeden rząd wielkości drobniejsze.
Nowy!!: Profilometr i Chropowatość powierzchni · Zobacz więcej »
Częstotliwość
Trzy punkty, emitujące błyski z różnączęstotliwościąf w hercach Hz, która oznacza liczbę błysków w czasie jednej sekundy. T jest okresem, czyli czasem trwania jednej sekwencji. T oraz f sąwzajemnie odwrotne. Zmiana przebiegu czasowego drgań odpowiadająca wzrostowi częstotliwości Częstotliwość, częstość – wielkość fizyczna określająca liczbę cykli zjawiska okresowego występujących w jednostce czasu.
Nowy!!: Profilometr i Częstotliwość · Zobacz więcej »
Falistość powierzchni
Falistość powierzchni - nierówności będące składowąpowierzchni rzeczywistej o charakterze przypadkowym lub zbliżonym do postaci okresowej, których odstępy znacznie przewyższająodstępy chropowatości powierzchni.
Nowy!!: Profilometr i Falistość powierzchni · Zobacz więcej »
Fonograf
Fonograf Thomas Edison z fonografem Słuchanie nagrania z wałka fonografu Fonograf (z gr. φωνή fonē, głos, oraz γραφή grafē, pisanie) – jedno z pierwszych urządzeń służących do zapisu i odtwarzania dźwięku, poprzednik patefonu.
Nowy!!: Profilometr i Fonograf · Zobacz więcej »
Interferometria
Interferometria – technika wykorzystująca zjawisko interferencji fal elektromagnetycznych (światła, fal radiowych) do pomiarów, np.
Nowy!!: Profilometr i Interferometria · Zobacz więcej »
Mikroskop sił atomowych
Mikroskop AFM Pentium MMX CD Obraz uzyskany za pomocąAFM: powierzchnia DVD Dysk twardy 3,2 i 30 Gb obrazowany za pomocąMFM. Mikroskop sił atomowych (ang. atomic force microscope, AFM) – rodzaj mikroskopu ze skanującąsondą(ang. scanning probe microscope, SPM).
Nowy!!: Profilometr i Mikroskop sił atomowych · Zobacz więcej »
Przyrząd pomiarowy
Przyrząd pomiarowy, dawniej: narzędzie miernicze – urządzenie, układ pomiarowy lub jego elementy przeznaczone do wykonywania pomiarów samodzielnie albo w połączeniu z jednym bądź wieloma urządzeniami dodatkowymi.
Nowy!!: Profilometr i Przyrząd pomiarowy · Zobacz więcej »
Sygnał analogowy
Sygnał analogowy – sygnał, który może przyjmować dowolnąwartość z ciągłego przedziału (nieskończonego lub ograniczonego zakresem zmienności).
Nowy!!: Profilometr i Sygnał analogowy · Zobacz więcej »
Sygnał cyfrowy
250px Sygnał cyfrowy – sygnał, którego dziedzina i zbiór wartości sądyskretne.
Nowy!!: Profilometr i Sygnał cyfrowy · Zobacz więcej »
Topografia powierzchni
Topografia powierzchni – konfiguracja powierzchni uwzględniająca jej kształt oraz obecność i wzajemne położenie jej punktów charakterystycznych.
Nowy!!: Profilometr i Topografia powierzchni · Zobacz więcej »
